客戶咨詢熱線：
15270896115
在精密光學實驗與工業檢測領域，光源往往是決定實驗成敗或檢測精度的關鍵變量。然而，傳統光源設備要么體積龐大、占據實驗臺面，要么波長單一、難以覆蓋多樣化需求，要么存在激光散斑干擾成像質量。FOLS-01超小型光纖輸出LED光源的出現，試圖用一種全新的產品哲學來回應這些痛點——將“全波段光源實驗室"裝進50×40×70mm、200g的機身之中，實現從紫外熒光激發到紅外晶圓檢測的跨場景覆蓋。
FOLS-01最核心的產品特征，是其覆蓋紫外（UV）、可見光（VIS）到紅外（IR）的寬光譜可選能力。根據官1方規格，該產品提供從紫外310nm到紅外1650nm的多種波長選擇，涵蓋白光、紫外（365nm、385nm）、藍紫（405nm）、藍（450nm、465nm）、綠（520nm）、黃（597nm）、琥珀（624nm）、紅（640nm）、深紅（760nm）、近紅外（860nm、950nm）及紅外（1200nm、1300nm、1550nm、1650nm）等多個波段。這種波長覆蓋廣度，使一臺設備即可適配熒光激發、光譜分析、光學傳感等多種實驗需求，無需為不同波段準備多臺專用光源。
在產品形態上，FOLS-01集成了輸出光纖、LED元件、驅動電路和電源，用戶只需打開電源即可從光纖端獲得LED光輸出。這種“通電即用"的便捷性，配合其手掌級別的尺寸，使其成為實驗室桌面和現場檢測場景中可靈活部署的光源工具。
熒光激發是FOLS-01明確列出的核心應用之一。在生命科學和材料科學領域，特定波長的激發光用于誘導樣品產生熒光信號，進而通過顯微成像或光譜分析獲取結構和成分信息。
紫外和藍紫波段（如365nm、405nm、450nm）的LED光在熒光實驗中具有實用價值。相較于激光，LED光源的優勢在于無散斑和無干涉條紋——這一特性在熒光成像中可以避免因照明不均勻造成的圖像偽影，提升成像質量。FOLS-01的LED光源特性使其成為傳統激光光源在熒光激發場景中的替代選項，尤其在需要避免散斑干擾的精密成像實驗中。
FOLS-01在晶圓檢測場景中的應用潛力，在其列出的“各種光學傳感"和“光探測器和元件評價"等應用方向上有所體現。而在半導體檢測領域，紅外波段光源正成為晶圓缺陷檢測的重要工具。
以碳化硅（SiC）外延片檢測為例，紅外熒光場成像已被用于識別基面位錯（BPD）、堆疊層錯（SF）等晶體缺陷。這類檢測通常需要紅外波段的激發光源來誘導特定缺陷的熒光信號。FOLS-01提供的860nm、950nm乃至1300nm的紅外波長選項，理論上可以適配此類半導體材料缺陷檢測的光源需求。同時，其600μm芯徑光纖可提供毫瓦級輸出（紅外波段約0.5mW~15mW），而200μm芯徑光纖則可輸出微小光束，適用于對晶圓表面微區進行定點照明檢測。
從工程實現角度看，FOLS-01的“實驗室"能力還體現在以下可量化的設計細節上：
| 設計維度 | 參數規格 | 對應“實驗室"能力 |
|---|---|---|
| 波長選擇 | 310nm~1650nm，超過15種波長可選 | 覆蓋紫外、可見、紅外，適配不同實驗需求 |
| 光纖輸出 | 600μm芯徑（高輸出）或200μm芯徑（微小光束），NA0.5 | 根據功率和光斑需求靈活切換 |
| 頻閃觸發 | TTL外部觸發輸入，最大重復頻率~1kHz | 支持同步頻閃照明，適配自動化檢測系統 |
| 功率穩定性 | 強制風冷控溫 | 保障長時間運行的輸出穩定 |
| 無散斑特性 | LED光源，無干涉條紋 | 避免光學偽影，提升成像和測量精度 |
需要客觀指出的是，“口袋光源實驗室"的定位更多體現在功能集成度和便攜性維度，而非絕對性能的全面對標。FOLS-01的輸出功率為毫瓦級（600μm芯徑條件下，視波長不同為0.5mW~50mW），與大型高功率激光器或專用工業面光源在功率密度上存在量級差異。因此，其最佳應用場景是對光源品質（無散斑）、波長靈活性和空間效率要求優先于絕對亮度的領域。
FOLS-01以50×40×70mm、200g的物理形態，將紫外到紅外的寬光譜可選能力、無散斑的光源品質、TTL頻閃觸發的同步功能整合為“通電即用"的單機解決方案。它并非試圖替代所有大型光源，而是在“便攜化、集成化、純凈光"這個垂直方向上，為熒光激發、無散斑光學測量、顯微鏡照明、光譜分析和晶圓檢測等場景提供了一個值得評估的新選項。一臺設備，從實驗室的熒光顯微到半導體產線的晶圓缺陷識別，FOLS-01正在重新定義“全波段光源"的便攜邊界。
